Et nanokomposittsystem og metode for forskning på nanomaterialer

1. Foreliggende oppfinnelse vedrører feltet for vitenskapelig forskningsutstyr på forskningsnivå innen nanovitenskap, og spesielt feltet for et integrert system i nanoskala og en fremgangsmåte for forskning på nanomaterialer.

Bakgrunnsteknikk:

2. Nanovitenskap er en vitenskap som studerer fysikkens lover innenfor 100 nanometer, og utviklingen er uatskillelig fra utviklingen og gjennombruddene innen vitenskapelig forskningsutstyr. Typer av vanlig brukt nanovitenskapelig forskningsutstyr inkluderer mikro-nano prosesseringsutstyr, for eksempel litografimaskiner, elektronstråleeksponeringsmaskiner, etc., fysisk eiendomskontrollutstyr, for eksempel utstyr for å endre de elektrooptiske egenskapene til prøver, etc. , og utstyr for karakterisering av fysiske egenskaper, for eksempel atomkraftmikroskop, sondenålebord, spektrometer, etc.

3. Funksjonene til det ovennevnte enkelt vitenskapelige forskningsutstyret er imidlertid relativt enkle. For eksempel er hovedfunksjonen til mikro-nano-prosessutstyret å behandle mikro-nano-strukturen til prøven, og det er umulig å direkte observere og karakterisere den behandlede mikro-nano-strukturen. Gode ​​prøver tas ut av enheten for videre karakterisering. På den annen side kan utstyr for karakterisering av fysiske egenskaper ikke utføre nanofabrikasjon av prøver eller kontrollere de fysiske egenskapene til prøver, og kan bare gi karakterisering av prøver som har blitt behandlet eller prøver hvis fysiske egenskaper er justert. Spesielt er reguleringen av optiske og elektriske egenskaper til en prøve ofte ikke-permanent, forbigående og endres dynamisk med miljøet og tiden til prøven. Derfor er det svært viktig å utføre in-situ sanntids fysisk egenskapskontroll og fysisk egenskapskarakterisering av prøven, og det er nøkkelen til om endringsloven til det forbigående fysiske fenomenet til prøven kan observeres.

4. For tiden kan kombinasjonen av vitenskapelig forskningsutstyr løse noen av problemene ovenfor, for eksempel kombinasjonen av atomkraftmikroskopi og Raman-spektroskopi, som samtidig kan karakterisere de fysiske egenskapene til prøvens morfologi og Raman-spektroskopi; atomkraftmikroskopi og elektrisk testing Kombinasjonen av plattformen kan realisere den fysiske egenskapskarakteriseringen av morfologien og elektriske transportegenskaper til prøven på samme tid. Effekten av enkel superposisjon og kombinasjon er imidlertid ikke ideell, og det er fortsatt umulig å realisere mikro-nano-prosessering, fysisk egenskapskontroll og in-situ fysisk egenskapskarakterisering av prøven på samme tid, noe som i stor grad begrenser forskningen på de grunnleggende fysiske egenskapene til nanomaterialer og forskning og utvikling av nanoenheter. med produksjon.

Kontakt oss:

Email: zhang@pride-cnc.com

Tlf: pluss 86-755-23699351

Mob: pluss 8618666663894